荷蘭帕納科公司相關法律

『壹』 本人在做熒光分析崗位…聽人說輻射很大…請問帕納科公司的熒光儀輻射真的很大嗎該怎麼防啊急急急！

熒光分析其實面對的是紫外線輻射，紫外線其實很好防護，工作時穿好工作服，不要讓皮膚暴露出來，臉部佩戴紫外線防護面罩（我們使用的是LUV-40紫外線防護面罩，效果很好）

『貳』 x射線衍射儀能做低角度的嗎荷蘭帕納克

您知道美國的攜帶型X射線衍射儀嗎，（XRD）Terra

『叄』 XRD的掃描速度和步長是同一個數值嗎

不是的。

步長即為step size。掃描速度是掃描速度。步長即每走一步的距離，掃描速度為單位時間所走的距離。step size是步進掃描方式，就是說在一個度數掃描固定時間 ，然後在下一個間隔角度掃描固定時間。測試通常是3~65°。每秒的度數為掃描速度。

XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，中文翻譯是X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。

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xrd的相關要求規定：

1、xrd採取屏蔽防護和距離防護原則。屏蔽防護是指使用原子序數較高的物質，常用鉛或含鉛的物質，作為屏障以吸收不必要的x線。距離防護是指利用x線曝射量與距離平方成反比這一原理，通過增加x線源與人體間距離以減少曝射量。

2、在X線環境中要注意穿戴鉛圍裙、鉛圍脖、鉛帽、鉛眼鏡、鉛手套、鉛面罩及性腺防護等，並利用距離防護原則，加強自我防護。

3、XRDX-射線衍射（Wide Angle X-ray Diffraction）主要是對照標准譜圖分析納米粒子的組成，分析粒徑，結晶度等。應用時應先對所制樣品的成分進行確認。在確定後，查閱相關手冊標准圖譜，以確定所制樣品是否為所得。

『肆』 X射線熒光光譜法測定種主、次痕量元素

方法提要

採用粉末試樣壓片制樣，用X射線熒光光譜儀直接測定試樣中SiO₂、Al₂O₃、CaO、Fe₂O₃、K₂O、MgO、Na₂O、As、Ba、Br、Ce、Cl、Co、Cr、Cu、Ga、Hf、La、Mn、Nb、Nd、Ni、P、Pb、Rb、S、Sc、Sr、Th、Ti、V、Y、Zn、Zr34種主、次、痕量元素。各分析元素採用經驗系數法與散射線內標法校正元素間的基體效應。

本方法適用於水系沉積物、土壤和岩石中以上各元素的測定。

本方法檢出限(3s)見表84.17。本方法測定范圍見表84.18。

表84.17 元素檢出限

表84.18 測定范圍

儀器裝置

波長色散X射線熒光光譜儀端窗銠靶X射線管(功率4kW)。

壓力機壓力不低於50t。

試劑和材料

低壓聚乙烯粉(市售化工用)。

國家一級標准物質水系沉積物GBW07301～GBW07312、土壤GBW07401～GBW07408、硅酸鹽岩石GBW07103～GBW07114、超基性岩GBW07101～GBW07102和覆蓋區土壤GBW07424～GBW07430。

校準曲線

標准物質樣片的制備。選用水系沉積物GBW07301～GBW07312、土壤GBW07401～GBW07408、硅酸鹽岩石GBW07103～GBW07114、超基性岩GBW07101～GBW07102和覆蓋區土壤GBW07424～GBW07430等國家一級標准物質。

稱取4.00g粒徑小於0.075mm的標准物質(已在105℃烘6～8h，冷卻後存放於乾燥器中)倒入模具內，用低壓聚乙烯粉鑲邊襯底，用306MPa液壓機壓製成型。試樣片的外徑為40mm，內徑為31mm。

標准化樣片的制備。選擇含有所有要求待測元素且含量適中的國家一級標准物質，按同樣制備步驟制備成標准化樣片。

按表84.19的儀器條件進行測定。

表84.19 分析元素測定條件

續表

採用一點法或兩點法扣背景，見84.2.1中式(84.1)或式(84.2)。

校準、譜線重疊干擾系數採用的數學回歸計算公式見式(84.3)，對一級標准物質中各元素的X射線強度與標准值的對應關系進行回歸曲線計算，求出校準曲線常數a、b、c和譜線重疊校正系數D_j，存入計算機相關軟體。

對於Na₂O、MgO、Al₂O₃、SiO₂、P、K₂O、CaO、Ti、Mn、Fe₂O₃、S、Cl、Ce、Nd、Sc、V、Cr、Ba和La等組分，採用經驗系數法校正基體效應，荷蘭帕納科公司(原飛利浦分析儀器)SuperQ軟體所用的綜合數學校正公式為:

岩石礦物分析第四分冊資源與環境調查分析技術

式中:C_i為校準試樣中分析元素i的含量(在未知試樣分析中，為基體校正後分析元素i的含量);D_i為元素i的校準曲線的截距;L_im為干擾元素m對分析元素i的譜線重疊干擾校正系數;Z_m為干擾元素m的含量或計數率;E_i為分析元素i校準曲線的斜率;R_i為分析元素i計數率(或與內標線的強度比值);Z_j、Z_k為共存元素的含量或計數率;N為共存元素的數目;α、β、δ、γ為校正基體效應的因子;i為分析元素;j和k為共存元素。

使用多個校準試樣，由公式(84.6)通過線性回歸求得用共存元素譜線重疊干擾的影響系數(A_j、B_ijk、D_ij、E_ijk、K、C等)，保存在計算機的定量分析軟體中。

各分析元素的干擾譜線見表84.20。

表84.20 干擾譜線

微量元素基體效應校正。對於微量Cu、Ni、Nb、Zr、Br、As、Ga、Hf、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn和Co，採用經驗系數法和康普頓散射線內標法校正基體效應。

測定標准化樣片。測定標准化樣片中各分析元素的X射線強度，作為儀器漂移校正的基準存入計算機。標准化樣片必須與標准物質在一次開機中同時測定，以保證儀器漂移校正的有效性。

分析步驟

按建立校準曲線的標准物質系列樣片制備同樣步驟制備未知試樣片並編號。

在測定未知試樣前，應對PHA進行調節。PC探測器可選用Al作為調節元素，SC探測器可選Cu作為調節元素。

啟動定量分析程序，測定標准化樣片，進行儀器漂移校正。

測定與未知試樣同批制備的已知含量的監控試樣(或其他的一級標准物質)，觀察這些監控試樣中各元素的分析結果是否滿足誤差(准確度)要求。

輸入試樣樣號後進行測定。

根據未知試樣的測定強度，由計算機軟體按式(84.3)、式(80.6)計算含量，報出各元素的分析值及置信范圍，置信度選用95%。將原始數據存檔保存。

注意事項

1)用於本法測定的試樣，送到實驗室前必須用磨口小玻璃瓶或聚丙烯瓶密封包裝保存。由於實驗室環境空氣中Cl含量較高，會很快污染試樣，制好的試樣片應盡快進行測定，不能及時測定時必須保存於乾燥器內。

2)實驗發現，部分水系沉積物和土壤等試樣，氯含量隨測定次數增加而增加。為了得到准確的分析結果，本法必須採用新制的樣片，先測定氯，而後順序測定其他元素。對於氯測定而言，試樣片和標准樣片都是不能重復使用的。

3)在選擇標准化試樣時，要注意氯含量隨測定次數增加而增加的實驗結果，否則不能做氯的標准化校準。

4)由於溴是被測定元素中含量最低的元素，為了提高測定精密度和准確度，實際測定中需採用雙通道測定後以平均值報出分析結果。